描述：ECS6634B安全性能綜合測(cè)試儀是集接地電阻、絕緣電阻中的某幾項(xiàng)測(cè)試功能，是各電器生產(chǎn)廠家和質(zhì)檢部門重要的檢測(cè)設(shè)備。? 自動(dòng)化基于為客戶減員增效、縮小工位占用面積的理念而開發(fā)的一款自動(dòng)化、小體積的多功能安規(guī)綜合測(cè)試儀。? 快速化多種測(cè)試模式選擇，測(cè)試排序、全屏觸控、易學(xué)易用。? 信息化具有多種通信接口連接、U盤存儲(chǔ)等功能，為您提供更加智。
絕緣電阻測(cè)試 | |
額定輸出 | 1000VDC/50GΩ |
直流電壓輸出 | 范圍：（100 ~ 1000）VDC，分辨率：1V，誤差：±（1%×設(shè)定值+5V） |
直流電壓測(cè)量 | 范圍：（100 ~ 1000）VDC，分辨率：1V，誤差：±（1%×讀數(shù)值+5V） |
電阻上下限設(shè)置 | 范圍：0.10MΩ~50000MΩ，上限包含無(wú)上限設(shè)定 |
絕緣電阻測(cè)量 | 范圍：0.10MΩ~50.00GΩ，分辨力：0.01MΩ /0.1MΩ /1MΩ /0.01GΩ 誤差：100V~499V：0.100MΩ~2000MΩ，±（5%×讀數(shù)值+2字） 500V~1000V：1.00MΩ~999.9MΩ，±（2%×讀數(shù)值+2字） 1000MΩ~9999MΩ：±（5%×讀數(shù)值+2字） 10.00GΩ~50.00GΩ：±（15%×讀數(shù)值+2字） |
緩升時(shí)間 | 范圍：0，（0.1 ~999.9）s，0為關(guān)，分辨力：0.1s，誤差：±0.1% ×設(shè)定值+2個(gè)字 |
延判時(shí)間 | 范圍：0，（0.5~999.9）s，0為無(wú)限長(zhǎng)，分辨力：0.1s，誤差：±0.1% ×設(shè)定值+2個(gè)字 |
緩降時(shí)間 | 范圍：0，（1.0~999.9）s，0為關(guān)，分辨力：0.1s，誤差：±0.1% ×設(shè)定值+2個(gè)字 |
充電下限電流 | （0~3.500）μA，自動(dòng)、手動(dòng) |
放電時(shí)間 | ≤200ms |
最大容性負(fù)載 | 1uF＜1kV，0.75uF＜2kV，0.5uF＜3kV |
濾波開關(guān) | ON/OFF，設(shè)置為ON時(shí)測(cè)試值更穩(wěn)定，但測(cè)試速度會(huì)下降，推薦測(cè)試容性負(fù)載時(shí)（如電容、鋰電池等）打開此開關(guān)。 |
直流接地電阻測(cè)試 | |
額定輸出 | 試驗(yàn)電流最大5A，電阻最大1000mΩ |
輸出電流 | 范圍：（3.0A~5.0A）DC，分辨率：0.1A，誤差：±（1%×設(shè)定值+4個(gè)字） |
電流波動(dòng) | ≤2%×設(shè)定值/分鐘 |
輸出電壓 | 范圍：（3.0~7.5）VDC，分辨力：0.1V，誤差：±（1%×設(shè)定值+2個(gè)字），開路情況下 |
上限/下限 電阻設(shè)置 | 范圍：(3.0~5.0)A：（0.0~1000.0）mΩ， 判定誤差：±(1%×設(shè)定值)； |
電阻測(cè)量 | 范圍：（10.0~1000）mΩ，分辨力：0.1/1 mΩ； 測(cè)量誤差：±(1%×讀數(shù)值)； |
電壓測(cè)量 | 范圍：（0.00~7.50）VDC，分辨力：0.01V，誤差：±（1%×讀數(shù)值+2個(gè)字），電壓顯示模式 |
電阻補(bǔ)償 | （0~200）mΩ |
測(cè)試時(shí)間 | 范圍：0，（0.5~999.9）s，0為無(wú)限長(zhǎng)，分辨力：0.1s，誤差：± 0.1% ×設(shè)定值+2個(gè)字 |
接口 | |
通信接口 | 標(biāo)配，RS232，選配RS485，LAN |
PLC接口 | 標(biāo)配，可接遙控啟停按鍵與測(cè)試狀態(tài)指示器 |
USB接口 | 標(biāo)配，可接U盤 |
選組器接口 | 標(biāo)配，可接選組器 |
小巧：小體積安規(guī)測(cè)試儀，最大單面面積約等于一張A4紙；
智能：全觸屏控制操作，UI應(yīng)用持續(xù)升級(jí)；數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、網(wǎng)絡(luò)傳送；
準(zhǔn)確：安規(guī)精度1%，適應(yīng)復(fù)雜環(huán)境下的穩(wěn)定準(zhǔn)確測(cè)試；
高檔：立體化面板造型、5吋觸摸屏；
綜合：多項(xiàng)目綜合測(cè)試，一臺(tái)儀器滿足多種測(cè)試需求。
